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适用于8时及8时以下wafer,配备wafer自动扩膜系統:搭載双点胶?榱榛钛∨涞憬悍е掷,胶量控制越發精确高精度直线驱动贴装头,音圈电机实现精准力控,共晶焊接可选配差別情性气体氛围:通用式工件台适用于处理差別种类的基板,高精度搜寻芯片平台,芯片自动角度校正系統采用真空漏晶檢測和重新拾取功效;可根据産品特性选配差別功效?橥敝С痔厥庑枨蠖ㄖ。
AME-200直显该设备适用于miniled点亮的质量檢測,采用高精度CCD分三个偏向对産品点亮的差別切换画面进行成像檢測,可兼容多种差別的款式産品,根据客户需求自由更换,檢測算法参数可灵活调整,檢測结果数据可视化,对扫描效果进行比对读取数据进行判定NG/OK,系統记录所有测试数据便當客户进行拷贝剖析。
要害詞:
适用于Mini LED直显産品的炉前炉后外观檢測,以及点亮后的外观檢測、 铸造龙门,实现高可靠性和高稳定性、工业相机 + 高區分率远心镜头,确保高精度、 基于圖像特征算法的精准定位和檢測,误报率低、可适用于最小3*5mil芯片的外观檢測、可适用于最多10万颗芯片的檢測
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